Настольный растровый электронный микроскоп
Настольный растровый электронный микроскоп (РЭМ) Hitachi TM3030 является полноценным прибором для анализа поверхности любых материалов с увеличением до 30 000X и разрешением до 25 нм. Он занимает минимум места на Вашем столе, и не требует специальной подготовки помещения для своей работы (достаточно обычной розетки 220В, потребляемая мощность составляет при этом 500Вт, т.е. на уровне энергопотребления современного персонального компьютера).
|
Характеристика |
Значение |
Изображения |
|
Размер: |
33х58х56 см |
Фотография непроводящего образца (Бумага). Увеличение: х500. |
|
Вес: |
63 кг |
|
|
Ускоряющее напряжение: |
5, 15кВ |
|
|
Увеличение: |
х15-30 000 |
|
|
Разрешение: |
30 нм |
|
|
Глубина резкости: |
0,5 мм |
|
|
Детектор: |
высокочувствительный полупроводниковый детектор обратно рассеянных электронов |
|
|
Источник электронов: |
предварительно центрированный вольфрамовый катод |
|
|
Перемещение столика образца: |
X=17,5 мм, Y=17,5 мм |
|
|
Максимальный размер образца: |
70 мм в диаметре, 50 мм в высоту |
Фотография непроводящего образца (Бумага). Увеличение: х2000 |
|
Режимы исследования: |
стандартный высоковакуумный и режим снятия зарядки с образца (низковакуумный режим) |
|
|
Автоматизация: |
авто старт, авто фокус, авто контраст/яркость |
|
|
РВакуумная система: |
турбомолекулярный насос и насос диафрагмой |
|
|
Формат сохраняемых данных: |
BMP, TIFF, JPEG |
|
|
Программное обеспечение: |
с простым и дружественным интерфейсом под управлением ПК с Microsoft Windows 7 |
|
Для работы с интерфейсом не требуются глубокие знания английского языка. Установка образца производится максимально просто. Аналитическая приставка позволяет делать быстрый микроанализ. Прибор имеет цельный и прочный корпус, позволяющий, при необходимости, легко перевозить его. Микроскоп позволяет проводить исследования непроводящих образцов без покрытия проводящим материалом (золотая пленка и т.п.), используя специальный режим. |
|||
|
|
|
||
|
При наблюдении образцов можно переключаться между режимами 5кВ и 15кВ, что позволяет наблюдать дефекты (тонкие пленки) находящиеся на поверхности в режиме 5кВ. |
|||
|
|
|
|
|
|
Встроенный софт позволяет осуществлять измерение размеров характерных элементов вашего образца. |
|||
|
|
|
|
|
|
Новый детектор обратно-отраженных электронов (такой же как в микроскопе S-3400) позволяет наблюдать объемные образцы с теневым и объемным контрастом (в отличии от топографического обычного контраста). |
|||
|
|
|
|
|
|
Приставка энергодисперсионного микроанализа дает возможность определить элементный состав исследуемого образца (диапазон определяемых элементов от B до U), при этом возможно проводить анализ по линии, проводить картирование (строить карты распределения элементов по площади), либо проводить автоматический поиск, анализ и классификацию микрочастиц. |
|||
