Увеличить

Настольный растровый электронный микроскоп

Настольный растровый электронный микроскоп (РЭМ) Hitachi TM3030 является полноценным прибором для анализа поверхности любых материалов с увеличением до 30 000X и разрешением до 25 нм. Он занимает минимум места на Вашем столе, и не требует специальной подготовки помещения для своей работы (достаточно обычной розетки 220В, потребляемая мощность составляет при этом 500Вт, т.е. на уровне энергопотребления современного персонального компьютера).

Распечатать

Таблица
Преимущества

Характеристика	Значение	Изображения
Размер:	33х58х56 см	Фотография непроводящего образца (Бумага). Увеличение: х500.
Вес:	63 кг
Ускоряющее напряжение:	5, 15кВ
Увеличение:	х15-30 000
Разрешение:	30 нм
Глубина резкости:	0,5 мм
Детектор:	высокочувствительный полупроводниковый детектор обратно рассеянных электронов
Источник электронов:	предварительно центрированный вольфрамовый катод
Перемещение столика образца:	X=17,5 мм, Y=17,5 мм
Максимальный размер образца:	70 мм в диаметре, 50 мм в высоту	Фотография непроводящего образца (Бумага). Увеличение: х2000
Режимы исследования:	стандартный высоковакуумный и режим снятия зарядки с образца (низковакуумный режим)
Автоматизация:	авто старт, авто фокус, авто контраст/яркость
РВакуумная система:	турбомолекулярный насос и насос диафрагмой
Формат сохраняемых данных:	BMP, TIFF, JPEG
Программное обеспечение:	с простым и дружественным интерфейсом под управлением ПК с Microsoft Windows 7

Для работы с интерфейсом не требуются глубокие знания английского языка. Установка образца производится максимально просто. Аналитическая приставка позволяет делать быстрый микроанализ. Прибор имеет цельный и прочный корпус, позволяющий, при необходимости, легко перевозить его. Микроскоп позволяет проводить исследования непроводящих образцов без покрытия проводящим материалом (золотая пленка и т.п.), используя специальный режим.

При наблюдении образцов можно переключаться между режимами 5кВ и 15кВ, что позволяет наблюдать дефекты (тонкие пленки) находящиеся на поверхности в режиме 5кВ.

Встроенный софт позволяет осуществлять измерение размеров характерных элементов вашего образца.

Новый детектор обратно-отраженных электронов (такой же как в микроскопе S-3400) позволяет наблюдать объемные образцы с теневым и объемным контрастом (в отличии от топографического обычного контраста).

Приставка энергодисперсионного микроанализа дает возможность определить элементный состав исследуемого образца (диапазон определяемых элементов от B до U), при этом возможно проводить анализ по линии, проводить картирование (строить карты распределения элементов по площади), либо проводить автоматический поиск, анализ и классификацию микрочастиц.